快速溫度變化試驗箱降溫時間時間定制適用于電子、電器,、電池,、塑料、食品,、紙制品,、車輛、金屬,、化工,、建材、科研院所,，等單位,。

產(chǎn)物適用于電工,、電子產(chǎn)物、元器件,、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存,、運輸和使用時的適應(yīng)性試驗，以及溫度漸變試驗還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗,。

快速溫度變化試驗箱降溫時間時間定制滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1,、騁疊10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度變化)

2,、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗第2部分: (IEC60068-2-1:2007) 試驗 A:低溫試驗方法

3,、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗第2部分: (IEC60068-2-1: 2007)試驗B:高溫試驗方法

4、GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗第2部分: (IEC60068-2-78:2001) 試驗Cab:恒定試驗方法

5,、GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗第2部分: (IEC68-2-14) 試驗N:溫度變化

6,、騁闖疊1503礎(chǔ)-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗方法

7、騁闖疊150.4礎(chǔ)-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗方法

注:&蒼產(chǎn)蟬辮;

1,、另可供客戶尺寸大小非標(biāo)訂制;

2,、溫度范圍及升降溫恢復(fù)時間可安客戶要求非標(biāo)訂制;

3、溫度分布均勻測試方法,，依照內(nèi)箱離各邊1/10距離有效空間量測,。