步入式芯片環(huán)境溫度老化試驗(yàn)室是較小尺寸較小容量的高低溫試驗(yàn)箱,；步入式高低溫環(huán)境試驗(yàn)室是較大尺寸較大容量的高低溫試驗(yàn)室。兩者除了尺寸容量不同,，功能,、用途、滿足標(biāo)準(zhǔn),、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn),、使用行業(yè)均是差不多的。步入式高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱箱體內(nèi)膽采用 不銹鋼（SUS3042B）氬弧焊制作而成,，箱體外膽采用冷軋板噴塑,。步入式高低溫環(huán)境試驗(yàn)室整體結(jié)構(gòu)采用耐高溫耐低溫庫(kù)板拼裝而成。它們的控制器均是采用微電腦溫度控制器,，控溫可靠,。控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇,，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示,；資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能,，避免人為觸摸而停機(jī),；具有RS-232或USB通訊界面,，可在電腦上設(shè)計(jì)程序，監(jiān)視試驗(yàn)過(guò)程并執(zhí)行自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)等功能,。

步入式芯片環(huán)境溫度老化試驗(yàn)室的技術(shù)參數(shù)：

1,、內(nèi)容積:6M3、8M3,、10M3,、12M3、15M3,、18M3,、20M3、30M3,、50M3,、(除了這些容積，更大或者更小的均可來(lái)電定制）,。

2,、內(nèi)室尺寸與外型尺寸：以客戶的測(cè)試件所需尺寸或場(chǎng)地等需求定制合理的內(nèi)外尺寸，建議雙方電談或者面談了解清楚實(shí)際需求再確定具體所需尺寸,，能有效節(jié)約成本及滿足實(shí)際需要,。

3、溫度范圍：RT～85 ℃或更高請(qǐng)致電說(shuō)明,。

4,、（單/雙)開(kāi)門選擇，如雙：W（800+800）mm×H1900mmW,；（可依客戶要求選擇或定制）,。

5、滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備,、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb,、GJB150.3-1986   高溫試驗(yàn)、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法,、GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn),。

6、工作噪音：A聲級(jí)≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃,，回聲少的隔音室內(nèi)測(cè)得,；采用A計(jì)權(quán)，測(cè)試8個(gè)點(diǎn)的平均值,；各測(cè)試點(diǎn)水平離噪音源1米,、高度離地面1米),。

7,、溫度波動(dòng)：溫度：≤&辮瀕恥蟬塵蒼;0.5℃  （指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）,。

8、溫度均勻度：溫度：≤2.0℃（均勻度為每次空載測(cè)試中實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）,。

9,、溫度升溫時(shí)間：約40min。

10,、電源：AC380V,，叁相四線＋保護(hù)地線。