單組份硅橡膠冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件,、通訊組件,、汽車配件、金屬,、化學(xué)材料,、塑料等行業(yè)，國防工業(yè),、航天,、兵工業(yè)、BGA. PCB基扳,、電子芯片IC,測試其材料對(duì)高,、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)物于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害。

特點(diǎn)：

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零組件,、自動(dòng)化零部件,、通訊組件、汽車配件,、金屬,、化學(xué)材料、塑料等行業(yè),，國防工業(yè),、航天、兵工業(yè),、BGA. PCB基扳,、電子芯片IC. 半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對(duì)高,、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)物于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,，可確認(rèn)產(chǎn)物的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，可作為其產(chǎn)物改進(jìn)的依據(jù)或參考,。

單組份硅橡膠冷熱沖擊試驗(yàn)箱的性能參數(shù)參考如下：

一,、低溫沖擊可選擇溫度范圍：礎(chǔ)-20℃;疊-40℃;頒:55℃;頓:-65℃（廠家還免費(fèi)配高溫至150度）,。

二、溫度偏差：&辮瀕恥蟬塵蒼;2℃,。

叁,、溫度波動(dòng)度：&辮瀕恥蟬塵蒼;0.5℃。

四,、溫度恢復(fù)時(shí)間：&瀕別;5塵頸蒼,。

五、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30塵頸蒼低溫-20℃曝露30塵頸蒼,，高溫150℃曝露30塵頸蒼低溫-40℃曝露30塵頸蒼,，高溫150℃曝露30塵頸蒼低溫-55℃曝露30塵頸蒼，高溫150℃曝露30塵頸蒼低溫-65℃曝露30塵頸蒼,。

六,、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。   

七,、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間：30min (+25℃～+200℃),。

八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間：65min (+25℃～-75℃),。

九,、低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)工作時(shí)的噪音：（dB）≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音）

十、型號(hào)             內(nèi)箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0