耐冷熱交變實(shí)驗(yàn)箱與觸摸屏行業(yè)高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要測(cè)試觸摸屏產(chǎn)物或觸摸屏行業(yè)相關(guān)的產(chǎn)物及零件等材料在在瞬間下經(jīng)高溫（熱沖擊）及低溫（冷沖擊）的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,�,？捎脕�(lái)做研發(fā)、生產(chǎn),、檢驗(yàn),、試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)用,。

可編程小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱｜半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體,、電子電器零組件、化學(xué)材料,、金屬材料,、自動(dòng)化零部件、通訊組件,、國(guó)防工業(yè),、航天工業(yè)、疊騁礎(chǔ),、筆頒疊基板,、電子芯片濱頒、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備,。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

可程式冷熱沖擊叁箱試驗(yàn)箱｜半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體,、電子電器零組件、化學(xué)材料,、金屬材料,、自動(dòng)化零部件、通訊組件,、國(guó)防工業(yè),、航天工業(yè)、疊騁礎(chǔ),、筆頒疊基板,、電子芯片濱頒、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備,。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱｜半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體,、電子電器零組件、化學(xué)材料,、金屬材料,、自動(dòng)化零部件、通訊組件,、國(guó)防工業(yè),、航天工業(yè),、BGA、PCB基板,、電子芯片IC,、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備,。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制,，柳沁采用 流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%,。制冷及電控關(guān)鍵零配件，使柳沁品牌的半導(dǎo)體冷熱沖

小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱｜半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體,、電子電器零組件,、化學(xué)材料、金屬材料,、自動(dòng)化零部件,、通訊組件、國(guó)防工業(yè),、航天工業(yè),、疊騁礎(chǔ)、筆頒疊基板,、電子芯片濱頒,、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

提籃式冷熱沖擊箱｜半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體,、電子電器零組件,、化學(xué)材料、金屬材料,、自動(dòng)化零部件,、通訊組件、國(guó)防工業(yè),、航天工業(yè),、疊騁礎(chǔ)、筆頒疊基板,、電子芯片濱頒,、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

高低溫和冷熱沖擊廠家一種環(huán)境測(cè)試方法,，?旨在評(píng)估產(chǎn)物在溫度急劇變化的環(huán)境下的適應(yīng)性和可靠性,。?主要涉及產(chǎn)物在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷從高溫到低溫或從低溫到高溫的快速溫度變化，?以檢驗(yàn)產(chǎn)物的結(jié)構(gòu)和性能是否能夠適應(yīng)這種劇烈的溫度波動(dòng),。?這種測(cè)試對(duì)于評(píng)估產(chǎn)物的環(huán)境適應(yīng)性和可靠性至關(guān)重要,，?尤其是在航空航天,、?電子、?信息等領(lǐng)域的應(yīng)用中,。?測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括GB/T 2423.1,、?IEC 60068-2-1

電子產(chǎn)物高低溫沖擊試驗(yàn)箱用壓縮機(jī)為主的制冷系統(tǒng)制冷產(chǎn)生低溫（也稱冷溫）及在加熱系統(tǒng)中產(chǎn)生的高溫（也稱熱溫）中兩溫度經(jīng)過(guò)控制器操控來(lái)回沖擊試驗(yàn)瀕別誨產(chǎn)物或配件，檢測(cè)其所受的在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)極冷溫及極熱溫的連續(xù)循環(huán)環(huán)境下所能承受的物理變化,。